因CCT測(cè)試比較復(fù)雜，且需要多循環(huán)暴露，容易使人混淆，具體看科迪操作

因CCT測(cè)試比較復(fù)雜，且需要多循環(huán)暴露，容易使人混淆，具體看科迪操作

   復(fù)合鹽霧試驗(yàn)機(jī)在普通鹽霧試驗(yàn)箱的基礎(chǔ)上，將溫濕度控制功能引入進(jìn)來，除普通鹽霧試驗(yàn)之外，如高溫高濕試驗(yàn)、高溫干燥試驗(yàn)等所有的溫濕度環(huán)境均可以在鹽霧試驗(yàn)機(jī)內(nèi)模擬完成。因?yàn)镃CT測(cè)試通常比較復(fù)雜，且需要多循環(huán)暴露，容易使人混淆。下述的測(cè)試指南可以幫助操作者了解CCT暴露測(cè)試條件可能帶來各個(gè)步驟之間的差異，并幫助不同實(shí)驗(yàn)室之間就測(cè)試結(jié)果達(dá)成共識(shí)。

使用參照樣品

    如果可能，參照樣品(測(cè)試過，已知性能的樣品)應(yīng)和被測(cè)樣品同步進(jìn)行測(cè)試，如有可能建議使用多種參照樣品。參照樣品有助于證判被測(cè)樣品的測(cè)試性能。參照樣品的使用可以幫助將重復(fù)測(cè)試的測(cè)試條件的參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)化，也能對(duì)不同的重復(fù)測(cè)試的結(jié)果比較進(jìn)行指導(dǎo)。

   測(cè)試樣品的制備

   常見的做法是在進(jìn)行CCT測(cè)試之前，在有涂層的樣品上劃線。這樣可以破壞涂層，以加速腐蝕進(jìn)程。當(dāng)使用石擊儀時(shí)，建議按ASTM D3170標(biāo)準(zhǔn)操作。

    越來越多的證據(jù)表明，劃痕深度的不同會(huì)嚴(yán)重影響CCT鹽霧測(cè)試結(jié)果。這對(duì)鍍鋅底材的影響大。大多數(shù)情形下，劃痕應(yīng)該深入到金屬底材。因?yàn)閯澓鄣膸缀涡螤?也會(huì)影響結(jié)果，必須記錄所使用的劃線工具?？墒褂蔑@微鏡來觀察劃痕損害，ASTM D1654標(biāo)準(zhǔn)中有劃痕方法的描述。